この研究は、脳腫瘍に関する症例対照研究である。症例は、20〜80歳の、調査時点で生存している233人の組織病理学的確定診断された脳腫瘍患者で、ウプサラ-オレブロ地域(1994-1996)またはストックホルム地域(1995-1996)に居住していた。対照は、各症例と1:2でマッチされて、スウェーデンの人口登録簿から選出された。質問票調査の回答率は、症例が200人(90%)、対照が425人(91%)であった。その結果、化学産業就労者のオッズ比(OR)は4.10、95%信頼区間(95%CI)1.25-13.4;実験室就労者のORは3.21、95%CI 1.16-8.85;頭頸部の放射線療法の経験者では、ORは3.61、95%CI 0.65-19.9;同領域の診断用X線検査の経験者では、ORは1.64、95%CI 1.04-2.58;医師を職業としている人では、ORは6.00、95%CI 0.62-57.7(このカテゴリーに属する症例は3人で、全員、蛍光透視法を用いた仕事をしていた);携帯電話の同側使用のORは2.42、95%CI 0.97-6.05)であった、と報告している。
更に、同じ症例対照研究(publication 1015)のデータベースについての追加的な、同様の分析が、 publication 6110 にある。
グループ | 説明 |
---|---|
集団 1 | 腫瘍部位の脳半球、同側での携帯電話使用 |
集団 2 | 腫瘍部位の脳半球、反対側での使用 |
集団 3 | 腫瘍部位の脳半球、同側及び反対側での使用 |
集団 4 | 腫瘍部位、前頭、前頭頭頂、頭頂、または頭頂後頭、同側使用 |
集団 5 | 腫瘍部位、前頭、前頭頭頂、頭頂、または頭頂後頭、反対側使用 |
集団 6 | 腫瘍部位、前頭、前頭頭頂、頭頂、または頭頂後頭、同側及び反対側使用 |
集団 7 | 腫瘍部位、側頭、後頭または側頭頭頂、同側使用 |
集団 8 | 腫瘍部位、側頭、後頭または側頭頭頂、反対側使用 |
集団 9 | 腫瘍部位、側頭、後頭または側頭頭頂、同側及び反対側使用 |
症例 | 対照 | |
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適格者 | 270 | - |
連絡担当者 | 233 | 466 |
参加者 | 217 | 439 |
評価可能 | 209 | 425 |
EMF-Portalでは電磁界へのばく露に関する結果のみを一覧に示す。
超低周波電磁界への潜在的ばく露がある職業(例:電気技師、エレクトロニクス工事、通信工事)と脳腫瘍のリスクとの関連は認められなかった。ビデオディスプレイ使用はリスクを上昇させなかった。マイクロ波のばく露量が最も高い解剖学的部位における携帯電話の同側使用について、脳腫瘍のリスク上昇が認められた。
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