[超低周波パルス化磁界下で酸化的ストレスにさらされたヒト神経性細胞における遺伝毒性の評価] med./bio.

An evaluation of genotoxicity in human neuronal-type cells subjected to oxidative stress under an extremely low frequency pulsed magnetic field

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研究目的（著者による）

詳細情報

影響評価項目

• 遺伝毒性／突然変異: DNA damage
• 細胞生存力／細胞分裂/増殖: cell viability, cell cycle distribution and apoptosis

ばく露

• • 50 Hz
  • 50/60 Hz (AC)
  • 磁界
• • 共ばく露

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方法 影響評価項目／測定パラメータ／方法

• 遺伝毒性／突然変異: DNA damage (1, 24, 48 and 72 h after treatment with 0 or 300 µM hydrogen peroxide; immunohistochemical staining of gamma-H2AX foci, fluorescence microscopy)
• 細胞生存力／細胞分裂/増殖: cell viability (24, 48 and 72 h after treatment with 0, 300, 500, 1000 or 3000 µM hydrogen peroxide; MTT assay), cell cycle distribution and apoptosis (1, 24, 48 and 72 h after treatment with 0 or 300 µM hydrogen peroxide; staining with bromodeoxyuridine and propidium iodide, flow cytometry)

研究の主なアウトカム（著者による）

研究助成

• University of Bologna, Italy

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