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7310件の論文が見つかりました。

キーワード: "power frequency", Netzfrequenz, "50 Hz", "60 Hz", 電力周波数

• 2015, McBain RA, Boswell-Ruys CL, Lee BB, Gandevia SC, Butler JE
  [脊髄損傷における咳の誘発を目的とした腹筋の電気刺激：刺激強度の影響] [med./bio.]
  Neurorehabil Neural Repair 29 (4): 362-369
• 2015, Yang F, Zhang C, Xu Q, Tiwari V, He SQ, Wang Y, Dong X, Vera-Portocarrero LP, Wacnik PW, Raja SN, Guan Y
  [後根進入部の電気刺激はラットの広ダイナミックレンジ神経活動を低下させる] [med./bio.]
  Neuromodulation 18 (1): 33-40; discussion 40
• 2015, Kim YT, Hei WH, Kim S, Seo YK, Kim SM, Jahng JW, Lee JH
  [挫滅損傷させたラット坐骨神経の再生に対するパルス化電磁界（PEMF）とヒト歯髄間質細胞およびFK506との併用治療の効果] [med./bio.]
  Int J Neurosci 125 (10): 774-783
• 2015, Huss A, Spoerri A, Egger M, Kromhout H, Vermeulen R
  [詳細] [磁界および電撃への職業的ばく露とALSのリスク：スイス国民コホート] [epidem.]
  Amyotroph Lateral Scler Frontotemporal Degener 16 (1-2): 80-85
• 2015, Kowall B, Breckenkamp J, Berg-Beckhoff G
  [詳細] [補完代替医療を用いる一般開業医と従来の西洋医学を用いる一般開業医で電磁界リスクに関する見解が異なる：ドイツでの郵便調査] [risk]
  J Prim Care Community Health 6 (1): 21-28
• 2015, Zhang Y, Liu X, Zhang J, Li N
  [詳細] [ラットのアルツハイマー病に対する超低周波電磁界ばく露の短期的影響] [med./bio.]
  Int J Radiat Biol 91 (1): 28-34
• 2015, Ledda M, D'Emilia E, Giuliani L, Marchese R, Foletti A, Grimaldi S, Lisi A
  [詳細] [非侵襲的な骨修復の手段としての非パルス化正弦波電磁界：ヒト間葉系幹細胞の骨細胞への分化に対する影響] [med./bio.]
  Tissue Eng Part C Methods 21 (2): 207-217
• 2015, Eyigor C, Eyigor S, Akdeniz S, Uyar M
  [進行した変形性膝関節症患者の痛み、機能、生活の質に対するパルス化無線周波の関節内印加の効果] [med. app.]
  J Back Musculoskelet Rehabil 28 (1): 129-134
• 2015, de Jesus Guirro RR, de Oliveira Guirro EC, de Sousa NT
  [経皮電気刺激の感覚および運動閾値には性別および年齢の影響がある] [med./bio.]
  PM&R 7 (1): 42-47
• 2015, Aghakhani K, Heidari M, Tabatabaee SM, Abdolkarimi L
  [詳細] [電気的熱傷患者の死亡率および罹患率に対する電流経路の影響] [elec. inj.]
  Burns 41 (1): 172-176
• 2015, Jayanth SH, Hugar BS, Chandra YP, Krishnan AG
  [詳細] [致死的頭部外傷：電撃に続いて受けた外傷：症例報告] [elec. inj.]
  Med Leg J 83 (1): 47-50
• 2015, van der Mark M, Vermeulen R, Nijssen PC, Mulleners WM, Sas AM, van Laar T, Kromhout H, Huss A
  [詳細] [超低周波磁界ばく露および電気ショックとパーキンソン病のリスク] [epidem.]
  Int Arch Occup Environ Health 88 (2): 227-234
• 2015, Vergara X, Mezei G, Kheifets L
  [詳細] [米国での1991-99年間の筋萎縮性側索硬化症による死亡と電気ショックおよび磁界への職業ばく露に関する症例対照研究] [epidem.]
  J Expo Sci Environ Epidemiol 25 (1): 65-71
• 2015, Karipidis KK
  [オーストラリア国メルボルンでの住宅磁界測定調査におけるバイアスの評価] [tech./dosim.]
  Radiat Prot Dosimetry 163 (1): 92-101
• 2015, Kym D, Seo DK, Hur GY, Lee JW
  [電撃傷の疫学：韓国での7年間調査における高電圧および低電圧の電撃傷の差異] [elec. inj.]
  Scand J Surg 104 (2): 108-114
• 2015, Karipidis KK
  [オーストラリア国メルボルンの住宅内電力周波磁界の調査] [tech./dosim.]
  Radiat Prot Dosimetry 163 (1): 81-91
• 2015, Valic B, Kos B, Gajsek P
  [子供の典型的なEMFばく露：ばく露量測定とドシメトリ] [tech./dosim.]
  Radiat Prot Dosimetry 163 (1): 70-80
• 2015, Lewis RC, Evenson KR, Savitz DA, Meeker JD
  [妊婦における一日の個人磁界ばく露指標の日々の変動] [tech./dosim.]
  J Expo Sci Environ Epidemiol 25 (1): 58-64
• 2015, Wei J, Sun J, Xu H, Shi L, Sun L, Zhang J
  [心筋細胞の細胞内カルシウムイオン動態に対する超低周波電磁界の影響] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 34 (1): 77-84
• 2015, Tiwari R, Lakshmi NK, Bhargava SC, Ahuja YR
  [詳細] [132 kV変電所で超低周波電磁界ばく露を受けた作業者のエピネフリン、DNA完全性、酸化ストレス] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 34 (1): 56-62
• 2015, Fijalkowski K, Nawrotek P, Struk M, Kordas M, Rakoczy R
  [詳細] [異なる種のバクテリアの機能的パラメータに対する回転磁界ばく露の影響] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 34 (1): 48-55
• 2015, Bayir E, Bilgi E, Sendemir-Urkmez A, Hames-Kocabas EE
  [詳細] [黄色ブドウ球菌およびO157:H7の増殖に対する、強度、周波数、ばく露時間が異なる超低周波電磁界の影響] [med./bio.]
  Electromagn Biol Med 34 (1): 14-18
• 2015, Tian WQ, Peng YG, Cui SY, Yao FZ, Li BG
  [脳虚血-再灌流傷害ラットの脳細胞ミトコンドリアでのエネルギー代謝に対する種々の強度の電気鍼療法の影響] [med./bio.]
  Chin J Integr Med 21 (8): 618-623
• 2015, Celik MS, Guven K, Akpolat V, Akdag MZ, Naziroglu M, Gul-Guven R, Celik MY, Erdogan S
  [詳細] [超低周波磁界はラットの脳、腎臓および肝臓にマンガン蓄積を誘発する] [med./bio.]
  Toxicol Ind Health 31 (6): 576-580
• 2014, Alasonati E, Comino E, Ianoz M, Korovkin N, Rachidi F, Schaefer D, Zryd JP, Zweiacker P
  Use of Fractal Dimension for the Analysis of Biological Effects of Electromagnetic Fields on the Moss P. Patens and the Nematode C. Elegans [temp.]
  2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE: pp. 991-995; ISBN 978-4-88552-287-1