この研究は、電力網からの超低周波(ELF)電磁界への住居の近接度と、先天性欠損のリスクとの関連を調べた。カナダのケベック州で1989-2016年に生まれた新生児についての人口集団ベースのサンプル2,164,246人を分析した。母親の出産時の住居の郵便番号をジオコード化し、最寄りの高圧送電線または変電所からの距離を計算した。対数二項回帰を用いて、住居の近接度と先天性欠損との関連についてのリスク比(RR)及び95%信頼区間(CI)を推定した。その際、母親及び新生児の特徴について調整した。その結果、送電線から200 m以内での先天性欠損の有病率(出生10万人あたり579.4人)は、200 m以遠(出生10万人あたり568.7人)よりも僅かに高かった。変電所についても同様の傾向が認められた。200 mの場合と比較して、50 mの距離では送電線(RR = 1.00、95% CI = 1.00-1.01)及び変電所(RR = 1.01、95% CI = 1.00-1.03)への近接度と先天性欠損のリスクとの関連はなかった。異なる臓器系における先天性欠損を調べたところ、一貫した関連はなかった。電力網からのELF電磁界への住居の近接度が先天性欠損のリスクを高めるという有力な証拠は認められなかった、と著者らは結論付けている。
グループ | 説明 |
---|---|
参照集団 1 | distance to power line: ≥ 200 m |
集団 2 | distance to power line: < 200 m |
参照集団 3 | distance to transformer station: ≥ 200 m |
集団 4 | distance to transformer station: < 200 m |
タイプ | 値 |
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合計 | 2,164,246 |
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