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1524件の論文が見つかりました。

キーワード: "non-ionizing radiation", "Nichtionisierende Strahlung", NIR, NIS, 非電離放射線

• 2009, Aldinucci C, Carretta A, Maiorca S, Leoncini S, Signorini C, Ciccoli L, Pessina G
  [詳細] [ラットの皮質シナプトソームに対する50Hz電磁界の影響] [med./bio.]
  Toxicol Ind Health 25 (4-5): 249-252
• 2009, Vecchia P, Matthes R, Ziegelberger G, Lin J, Saunders R, Swerdlow A, International Commission on Non-Ionizing Radiation Protection (ICNIRP)
  [詳細] [高周波電磁界へのばく露、生物学的影響および健康への影響（100 kHz - 300 GHz）] [review]
  ICNIRP; ISBN 978-3-934994-10-2
• 2009, de Jager L, Grobler T
  [アフリカの磁気共鳴イメージング環境における電磁界へのばく露] [tech./dosim.]
  Environmentalist 29 (2): 153-156
• 2009, Grandolfo M
  [電磁界へのばく露に関する世界の基準：全体的概要] [misc.]
  Environmentalist 29 (2): 109-117
• 2009, Ahlbom A, Feychting M, Green A, Kheifets L, Savitz DA, Swerdlow AJ, International Commission on Non-Ionizing Radiation Protection (ICNIRP)
  [詳細] [携帯電話と腫瘍リスクに関する疫学的証拠：レビュー] [review]
  Epidemiology 20 (5): 639-652
• 2009, Findlay RP, Lee AK, Dimbylow PJ
  [10MHz-3GHzにおける種々の姿勢の小児ボクセルモデルでのSARのFDTD法による計算] [tech./dosim.]
  Radiat Prot Dosimetry 135 (4): 226-231
• 2009, Sannino A, Sarti M, Reddy SB, Prihoda TJ, Vijayalaxmi, Scarfi MR
  [詳細] [無線周波放射にばく露されたヒト血液リンパ球での適応応答の誘導] [med./bio.]
  Radiat Res 171 (6): 735-742
• 2009, Cao Y, Zhang W, Lu MX, Xu Q, Meng QQ, Nie JH, Tong J
  [詳細] [９００ＭＨzマイクロ波放射はＳＨＧ４４細胞に対するγ線の悪影響を増強する] [med./bio.]
  J Toxicol Environ Health A 72 (11): 727-732
• 2009, Paniagua JM, Rufo M, Jimenez A, Antolin A, Sanchez M
  [複雑な電磁環境における電気的刺激と熱の影響の比較] [tech./dosim.]
  Sci Total Environ 407 (16): 4717-4722
• 2009, Dolan M, Rowley J
  [解説：携帯電話と基地局からの無線周波のばく露の状況におけるプレコーション原則] [basics]
  Environ Health Perspect 117 (9): 1329-1332
• 2009, Santini MT, Rainaldi G, Indovina PL
  [詳細] [超低周波（ELF）電磁界の細胞への影響] [review]
  Int J Radiat Biol 85 (4): 294-313
• 2009, Arruda-Neto JD, Friedberg EC, Bittencourt-Oliveira MC, Cavalcante-Silva E, Schenberg AC, Rodrigues TE, Garcia F, Louvison M, Paula CR, Mesa J, Moron MM, Maria DA, Genofre GC
  [静電界は電離放射線ばく露を受けた細胞の生存力に影響する] [med./bio.]
  Int J Radiat Biol 85 (4): 314-321
• 2009, Güler G, Turkozer Z, Ozgur E, Tomruk A, Seyhan N, Karasu C
  [詳細] [超低周波電界の下でのモルモットのタンパク質の酸化：N-アセチル-L-システイン処理の影響] [med./bio.]
  Gen Physiol Biophys 28 (1): 47-55
• 2009, Findlay RP, Dimbylow PJ
  [65MHz-2GHzにおける半波長ダイポールアンテナからの電磁界の空間平均とそれに対応する人体ボクセルモデルNORMANでのSAR計算] [tech./dosim.]
  Phys Med Biol 54 (8): 2437-2447
• 2009, Burdak-Rothkamm S, Rothkamm K, Folkard M, Patel G, Hone P, Lloyd D, Ainsbury L, Prise KM
  [詳細] [間欠的な超低周波磁界に応じたDNA及び染色体損傷] [med./bio.]
  Mutat Res Genet Toxicol Environ Mutagen 672 (2): 82-89
• 2009, International Commission on Non-Ionizing Radiation Protection (ICNIRP)
  [詳細] [静磁界へのばく露制限に関するガイドライン] [guideline]
  Health Phys 96 (4): 504-514
• 2009, Vijayalaxmi, Prihoda TJ
  [詳細] [極低周波電磁界にばく露された哺乳類体細胞における遺伝子損傷： 87の公表文献（1990-2007）からのデータをメタ分析する] [review]
  Int J Radiat Biol 85 (3): 196-213
• 2009, Moratal D, Marti-Bonmati L, Gili J
  [MRIからの電磁界への労働者のばく露に関する欧州指令2004/40 / EC] [foreign-language]
  Radiologia 51 (1): 30-37
• 2009, Kännälä S, Toivo T, Alanko T, Jokela K
  [MRIスキャナ付近の静磁界およびパルス勾配磁界への職業ばく露の測定] [tech./dosim.]
  Phys Med Biol 54 (7): 2243-2257
• 2009, Kaufman DW, Anderson TE, Issaragrisil S
  [詳細] [タイにおける白血病のリスク要因] [epidem.]
  Ann Hematol 88 (11): 1079-1088
• 2009, Kohli DR, Sachdev A, Vats HS
  [詳細] [携帯電話と腫瘍：未だ中間地帯にある] [review]
  Indian J Cancer 46 (1): 5-12
• 2009, Keikko T, Seesvuori R, Hyvonen M, Valkealahti S
  [低電圧システムによる内部電流密度に基礎を置いた、市民の磁界ばく露] [tech./dosim.]
  Health Phys 96 (4): 423-431
• 2009, Hansson Mild K, Alanko T, Decat G, Falsaperla R, Gryz K, Hietanen M, Karpowicz J, Rossi P, Sandström M
  [詳細] [労働者の電磁界ばく露、ばく露票評価法における未解決問題の再検討] [review]
  Int J Occup Saf Ergon 15 (1): 3-33
• 2009, de Fleurian G, Perrin J, Ecochard R, Dantony E, Lanteaume A, Achard V, Grillo JM, Guichaoua MR, Botta A, Sari-Minodier I
  [臨床診療でのアンケート調査で得られた職業ばく露およびそれの精子品質との関連] [epidem.]
  J Androl 30 (5): 566-579
• 2008, Yang L, Guizhen L
  The research on biological effects of mobile phone radiation to human body [tech./dosim.]
  2008 Asia-Pacific Microwave Conference, Hong Kong, China. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-4244-2642-3