Die folgenden Begriffe wurden einbezogen:
"occupational exposure", "berufliche Exposition", 職業ばく露
-
2012,
Baldi I, Coureau G, Gruber A, Rondeau V, Loiseau H
Int J Cancer 130 (3): 744
-
Int J Cancer 130 (3): 743
-
2011,
Danulescu R, Goiceanu C, Danulescu E, Reaboiu K, Balaceanu G, Borza V
Environ Eng Manag J 10 (4): 481-489
-
2011,
Hanna SA, Motai Y, Varhue W, Titcomb S
Measurement 44 (8): 1412-1421
-
2011,
Juhasz P, Bakos J, Nagy N, Janossy G, Finta V, Thuroczy G
Prog Biophys Mol Biol 107 (3): 449-455
-
2011,
van Dijk HFG, van Rongen E, Eggermont G, Lebret E, Bijker WE, Timmermans DRM
J Risk Res 14 (4): 451-466
-
Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50191 VDE 0104:2011-10
-
Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50122-1 VDE 0115-3:2011-09
-
Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50522 VDE 0101-2:2011-11
-
Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50110-2 VDE 0105-2:2011-02
-
2011,
Arnould JF, Le Floch R
Burns 37 (3): e13-e15
-
2011,
Solarino B, Di Vella G
Am J Forensic Med Pathol 32 (4): 324-326
-
Occup Health Saf 80 (6): 61-62
-
Occup Health Saf 80 (6): 74-75
-
Occup Health Saf 80 (9): 42, 44, 46
-
Deutsche Gesetzliche Unfallversicherung (DGUV),
IFA-Report 5/2011: 1-72, ISBN 978-3-86423-011-0
-
2011,
Aggarwal S, Maitz P, Kennedy P
Burns 37 (6): 1038-1043
-
2011,
Chang BL, Chang A, Strasser J, Reinhardt JF, Guarino M
Del Med J 83 (5): 137-141
-
2011,
Lumenta DB, Vierhapper MF, Kamolz LP, Keck M, Frey M
Burns 37 (8): 1427-1434
-
2011,
Schneider JC, Qu HD
Phys Med Rehabil Clin N Am 22 (2): 261-275
-
2011,
Mishra NK, Russmann H, Granziera C, Maeder P, Annoni JM
Eur Neurol 66 (4): 229-234
-
2011,
Olsen RG, Schneider JB, Tell RA
IEEE Transactions on Power Delivery 26 (1): 352-359
-
IEEE Microw Mag 12 (4): 46-56
-
IEEE Antennas Propag Mag 53 (1): 169-174
-
2011,
Barbiroli M, Carciofi C, Guiducci D
IEEE Trans Electromagn Compat 53 (1): 219-228