Joint Data Rate and EMF Exposure Analysis in Manhattan Environments: Stochastic Geometry and Ray Tracing Approaches tech./dosim.

[Gemeinsame Analyse von Datenrate und EMF-Exposition in Manhattan-Umgebungen: Stochastische Geometrie und Raytracing-Ansätze]

Von: Wiame C, Demey S, Vandendorpe L, De Doncker P, Oestges C
Veröffentlicht in: IEEE Transactions on Vehicular Technology 2024; 73 (1): 894-908
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