[マンハッタンの環境でのジョイントデータレートおよび電磁界ばく露：確率論的幾何学およびレイトレーシングアプローチ] tech./dosim.

Joint Data Rate and EMF Exposure Analysis in Manhattan Environments: Stochastic Geometry and Ray Tracing Approaches

著者: Wiame C, Demey S, Vandendorpe L, De Doncker P, Oestges C
掲載誌: IEEE Transactions on Vehicular Technology 2024; 73 (1): 894-908
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