Challenges in Risk-based EMC for MRI Systems Grundlagen

[Herausforderungen bei der risikobasierten EMV für MRT-Systeme]

Von: Vélez RS, van Helvoort MJAM, Vogt-Ardatjew R, Van den Berg B, Leferink F
Veröffentlicht in: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, Krakow, Poland. IEEE, 2023: S. 1-6; ISBN 9798350324013
Referenz im RIS-Format herunterladen

Exposition