[MRIシステムのリスクベースのEMCにおける課題] basics

Challenges in Risk-based EMC for MRI Systems

著者: Vélez RS, van Helvoort MJAM, Vogt-Ardatjew R, Van den Berg B, Leferink F
掲載誌: 2023 International Symposium on Electromagnetic Compatibility – EMC Europe, Krakow, Poland. IEEE, 2023: pp. 1-6; ISBN 9798350324013
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