High Noon for Mobile Networks: Short-Time EMF Measurements to Capture Daily Exposure tech./dosim.

[High Noon für Mobilfunk-Netze: Kurzzeitige EMF-Messungen zur Erfassung der täglichen Exposition]

Von: Adda S, Chiaraviglio L, Franci D, Lodovisi C, Pasquino N, Pavoncello S, Pedroli C, Pelosini R
Veröffentlicht in: IEEE Trans Instrum Meas 2023; 72: 5504410
Referenz im RIS-Format herunterladen

Exposition