Modeling and Measurement of Exposure to Realistic Non-Uniform Electric Fields at 50 Hz
tech./dosim.
[Modellierung und Messung der Exposition bei realistischen inhomogenen elektrischen Feldern von 50 Hz]
Von:
Laakso I, Lehtinen T
Veröffentlicht in: 2019 Joint International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Sapporo and Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Sapporo/APEMC), Sapporo, Japan. IEEE, 2019: 334-337; ISBN 978-1-7281-1639-6
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