2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), Reno, NV, USA. IEEE: 659-662; ISBN 978-1-7281-7431-0
2020,
Halašová E, Tóthová B, Kmeťová Sivoňová M, Okajčeková T, Škovierová H, Špánik P, Pavelek M, Frivaldský M
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