2019,
Sharma S, Wu SY, Jimenez H, Xing F, Zhu D, Liu Y, Wu K, Tyagi A, Zhao D, Lo HW, Metheny-Barlow L, Sun P, Bourland JD, Chan MD, Thomas A, Barbault A, D'Agostino RB, Whitlow CT, Kirchner V, Blackman C, Pasche B, Watabe K
2018 5th International Conference on Electrical and Electronic Engineering (ICEEE), Istanbul, Turkey. IEEE: 323-328; ISBN 978-1-5386-6393-6
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