2019,
Sharma S, Wu SY, Jimenez H, Xing F, Zhu D, Liu Y, Wu K, Tyagi A, Zhao D, Lo HW, Metheny-Barlow L, Sun P, Bourland JD, Chan MD, Thomas A, Barbault A, D'Agostino RB, Whitlow CT, Kirchner V, Blackman C, Pasche B, Watabe K
2018,
Shigeoka D, Yamazaki T, Ishikawa T, Miike K, Fujiwara K, Ide T, Oshima A, Hashimoto T, Aihara D, Kanda K, Usui A, Hosokai Y, Saito H, Ichiyanagi Y
2018 5th International Conference on Electrical and Electronic Engineering (ICEEE), Istanbul, Turkey. IEEE: S. 323-328; ISBN 978-1-5386-6393-6
Um diese Webseite für Sie optimal zu gestalten und fortlaufend verbessern zu können, verwenden wir Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu.