Die folgenden Begriffe wurden einbezogen:
"limit value", Grenzwert, 限度値
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IEEE Access 9: 13009-13021
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2021,
Yang L, Zhang C, Chen Z, Li C, Wu T
Environ Sci Pollut Res 28 (5): 5755-5773
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2021,
Klein V, Davids M, Schad LR, Wald LL, Guérin B
Magn Reson Med 85 (2): 1047-1061
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2021,
Tognola G, Masini B, Gallucci S, Bonato M, Fiocchi S, Chiaramello E, Parazzini M, Ravazzani P
IEEE J Electromagn RF Microw Med Biol 5 (2): 100-107
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2020,
Leidecker-Sandmann S, Kohler S, Osterheider A, Niemann P, Lehmkuhl M
Bundesamt für Strahlenschutz (BfS),
Ressortforschungsberichte zum Strahlenschutz, BfS-RESFOR-160/20: 1-84
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Arch Electr Eng 69 (1): 57-68
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J Appl Sci Eng 23 (2): 279-287
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Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 62209-2 VDE 0848-209-2:2020-07
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Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE (DKE),
DIN EN 50499 VDE 0848-499:2020-12
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2020,
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Lichtblick Kommunikation,
Dokumentation No. 156: 1-41
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2020,
Informationszentrum-Mobilfunk, Lichtblick Kommunikation
Deutscher Städte- und Gemeindebund (DStGB),
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UMID 2: 25-34
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Gen Physiol Biophys 39 (6): 531-544
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2020,
Kiouvrekis Y, Manios G, Tsitsia V, Gourzoulidis G, Kappas C
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2020,
Murakawa T, Diao Y, Rashed EA, Kodera S, Tanaka Y, Kamimura Y, Kitamura S, Uehara S, Otaka Y, Hirata A
IEEE Access 8: 200995-201004
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2020,
Adda S, Aureli T, Coltellacci S, D’elia S, Franci D, Grillo E, Pasquino N, Pavoncello S, Suman R, Vaccarono M
IEEE Access 8: 171956-171967
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2020,
Kohan M, Jakusova V, Jakus J, Zivcak J, Hudak R, Schnitzer M, Jancosek M, Ivankova J
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Zhang Y, Wang J, Liu X, Ding L, Wu X, He M, Hou H, Ruan G, Lai J, Chen C
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2020,
He W, Xu B, Yao Y, Colombi D, Ying Z, He S
IEEE Access 8: 148214-148225
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2020,
Asa E, Mohammad M, Onar OC, Pries J, Galigekere V, Su GJ
2020 IEEE Transportation Electrification Conference & Expo (ITEC), Chicago, IL, USA. IEEE: S. 17-24; ISBN 978-1-7281-4630-0
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2020,
Gryz K, Karpowicz J, Zradziński P
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2020,
Betta G, Cerro G, Miele G, D’Amata MS, Capriglione D
2020 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), Dubrovnik, Croatia. IEEE: S. 1-6; ISBN 978-1-7281-4461-0
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Environ Monit Assess 192 (6): 334
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IEEE Microw Mag 21 (4): 15-17