Experimental Evaluation of Relationship Between Radiofrequency Heating Near Implanted Conductive Devices, Scanner-Reported B1+rms, and Transmit Power Gerät/Impl.

[Experimentelle Bewertung des Zusammenhangs zwischen Hochfrequenz-Erwärmung in der Nähe von implantierten leitfähigen Geräten, vom Scanner gemeldeten B1+rms und der Sendeleistung]

Von: Gultekin DH, Vaughan Jr JT, Shrivastava D
Veröffentlicht in: IEEE J Microw 2025 [im Druck]
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