Radio-Frequency Exposure Assessment for Emerging Technologies Grundlagen

[Bestimmung der Hochfrequenz-Exposition für neu aufkommende Technologien]

Von: Flintoft ID, Porter SJ, Capstick MH, Marvin AC
Veröffentlicht in: 2002 EMC-Europe Sorrento, Sorrento, Italy. IEEE, 2002: S. 1-6; ISBN 9798331500023
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Exposition