Radio-Frequency Exposure Assessment for Emerging Technologies temp.

[Bewertung der Hochfrequenz-Exposition für neu entstehende Technologien]

Von: Flintoft ID, Porter SJ, Capstick MH, Marvin AC
Veröffentlicht in: 2014 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Tokyo, Japan. IEEE, 2014: S. 1-6; ISBN 978-4-88552-287-1
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Exposition