On Electrical Safety in Academic Laboratories Sonst.

[Elektrische Sicherheit in akademischen Laboratorien]

Von: Araneo R, Dehghanian P, Mitolo M

Veröffentlicht in: IEEE Trans Ind Appl 2019; 55 (6): 5613-5620

Journal
IEEE Xplore
doi:10.1109/TIA.2019.2934940

Exposition

- magnetisches Feld
- Niederfrequenz
- Berührungsstrom
- Hochfrequenz
- EMF allgemein
- Stromunfall

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