Analysis of Exposure to Electromagnetic Fields Due to Multiple Sources in a Classroom Environment
tech./dosim.
[Analyse der Exposition bei elektromagnetischen Feldern durch mehrere Quellen in einem Klassenzimmer]
Von:
Soares NE, Bulla G, Fernandez-Rodriguez CE, De Salles ÁAA
Veröffentlicht in: 2023 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC), Castelldefels, Spain. IEEE, 2023: S. 28-30; ISBN 9798350320688
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