System-Level Electric Field Exposure Assessment by the Fault Tree Analysis tech./dosim.

[Bestimmung der elektrischen Feld-Exposition auf Systemebene mit Hilfe der Fehlerbaum-Analyse]

Von: Jin L, Peng C, Jiang T
Veröffentlicht in: IEEE Trans Electromagn Compat 2017; 59 (4): 1095-1102
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