Penetration Depth Quantification of Open-ended Coaxial Probes for Dielectric Spectroscopy of Layered Media
tech./dosim.
[Quantifizierung der Eindringtiefe von offenen koaxialen Sonden für die dielektrische Spektroskopie von geschichteten Medien]
Von:
Bidgoli HA, Schieda N, Rossa C
Veröffentlicht in: 2023 IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), Regina, SK, Canada. IEEE, 2023: S. 94-98; ISBN 9798350323986
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