Investigation of Power Levels Related to Different EMF Exposure Metrics at 6 GHz tech./dosim.

[Untersuchung von Leistungspegeln im Zusammenhang mit verschiedenen EMF-Expositionsmetriken bei 6 GHz]

Von: El Hajj W, Roman J, Yao Z, Paxman R, De Santis V
Veröffentlicht in: IEEE Access 2023; 11: 62174-62179
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