Statistical Characterization and Modeling of Indoor RF-EMF Down-Link Exposure tech./dosim.

[Statistische Charakterisierung und Modellierung der HF-EMF-Down-Link-Exposition in Innenräumen]

Von: Mulugeta BA, Wang S, Ben Chikha W, Liu J, Roblin C, Wiart J
Veröffentlicht in: Sensors 2023; 23 (7): 3583
Referenz im RIS-Format herunterladen

Exposition