The scaled SAM models and SAR for handset exposure at 835 MHz tech./dosim.

[Die skalierten SAM-Modelle und die SAR für die Handgeräte-Exposition bei 835 MHz]

Von: Lee AK, Choi HD, Choi JI, Pack JK
Veröffentlicht in: IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest, 2005, Long Beach, CA, USA. IEEE, 2005: S. 1323-1326; ISBN 978-0-7803-8845-1
Referenz im RIS-Format herunterladen

Exposition