A Study of SAR Values in Induction, High Frequency and Microwave Nearfields tech./dosim.

[Eine Untersuchung zu SAR-Werten in Induktions-, Hochfrequenz- und Mikrowellen-Nahfeldern]

Veröffentlicht in: 2020 23rd International Microwave and Radar Conference (MIKON), Warsaw, Poland. IEEE, 2020: S. 386-391; ISBN 978-1-7281-5787-0

Exposition