Measuring the shielding properties of flexible or rigid enclosures for portable electronics Grundlagen

[Messung der Abschirmeigenschaften von flexiblen oder starren Gehäusen für tragbare Elektronik]

Von: Duffy AP, Arihilam E, Sasse H, Parker S, Armstrong R, Wainwright N, Steggles S, Thomas T
Veröffentlicht in: Philos Trans A Math Phys Eng Sci 2018; 376 (2134): 1-12
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