Distribution fitting for long term electric field strength measurements
tech./dosim.
[Verteilungsanpassung für Langzeit-Messungen von elektrischen Feldstärken]
Von:
Kurnaz C, Engiz BK
Veröffentlicht in: 2017 40th International Conference on Telecommunications and Signal Processing (TSP), Barcelona, Spain. IEEE, 2017; ISBN 978-1-5090-3983-8
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