Possible mechanism for effects caused by exposure to extremely low frequency magnetic fields tech./dosim.

[Möglicher Mechanismus für Wirkungen, die durch extrem niederfrequente Magnetfelder verursacht werden]

Von: Gao Y, Zheng Y, Chen R, Wang H, Dong L, Dou J
Veröffentlicht in: IEEE Trans Magn 2016; 52 (7): 5001008-
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