In situ exposure assessment of intermediate frequency fields of diverse devices tech./dosim.

[In situ-Expositions-Abschätzung von Zwischenfrequenz-Feldern verschiedener Geräte]

Von: Van Den Bossche M, Verloock L, Aerts S, Joseph W, Martens L
Veröffentlicht in: Radiat Prot Dosimetry 2015; 164 (3): 252-264
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