Thermal implications of the new relaxed IEEE RF safety standard for head exposures to cellular telephones at 835 and 1900 MHz tech./dosim.

[Thermische Auswirkungen eines neuen, gelösten IEEE-Hochfrequenz-Sicherheitsstandards für Kopf-Expositionen bei Handys mit 835 bis 1900 MHz]

Veröffentlicht in: IEEE Trans Microw Theory Tech 2006; 54 (7): 3146-3154

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