この研究は、超低周波(ELF)電磁界への妊娠中の累積ばく露と、早産または低出生体重のリスクとの関連を、フランスの2つの出生コホート(どちらも2011年に開始された人口集団ベースのコホートで、それぞれ新生児18329人および8400人が含まれる)のプール分析で調べた。健康に関連するデータ、住居、母子の特徴を、医療記録ならびに出産時およびフォローアップ期間中に実施したアンケートから取得した。職業‐ばく露マトリクスを用いて、(1) 妊娠15週まで、(2) 妊娠28週まで、(3) 妊娠32週までの3つの期間におけるELF電磁界への累積ばく露を評価した。分析はフランス本土で生まれた単児と、職業が文書化された母親に限定した(N = 19894)。調整済みロジスティック回帰モデルを用いた。その結果、当該期間中に、母親の3.2-4%が高ばく露群に分類された。3つの期間で低ばく露群の母親には早産のリスク上昇が認められ、高ばく露群には関連は認められなかった(オッズ比(OR)1 = 0.92、95%信頼区間(CI)= 0.74-1.15;OR2 = 0.98、95% CI = 0.80-1.21;OR3 = 1.14、95% CI = 0.92-1.41)。低出生体重については、(2)の低ばく露群、(3)の高ばく露群(OR = 1.25、95% CI = 1.02-1.53)におけるリスク上昇を除いて、関連は認められなかった。ELF電磁界ばく露と早産および低出生体重との関連が一部に認められたが、ばく露レベルに依存しないことから、この関連をELF電磁界ばく露で完全に説明することはできない、と著者らは結論付けている。
グループ | 説明 |
---|---|
参照集団 1 | cumulative exposure, period 1 (up to 15 weeks of gestation): < 9.6 µT-days |
集団 2 | cumulative exposure, period 1 (up to 15 weeks of gestation): 9.6 - 14.6 µT-days |
集団 3 | cumulative exposure, period 1 (up to 15 weeks of gestation): 14.6 - 24.8 µT-days |
集団 4 | cumulative exposure, period 1 (up to 15 weeks of gestation): ≥ 24.8 µT-days |
参照集団 5 | cumulative exposure, period 2 (up to 28 weeks of gestation): < 16.5 µT-days |
集団 6 | cumulative exposure, period 2 (up to 28 weeks of gestation): 16.5 - 25.1 µT-days |
集団 7 | cumulative exposure, period 2 (up to 28 weeks of gestation): 25.1 - 42.6 µT-days |
集団 8 | cumulative exposure, period 2 (up to 28 weeks of gestation): ≥ 42.6 µT-days |
参照集団 9 | cumulative exposure, period 3 (up to 32 weeks of gestation): < 18.2 µT-days |
集団 10 | cumulative exposure, period 3 (up to 32 weeks of gestation): 18.2 - 27.6 µT-days |
集団 11 | cumulative exposure, period 3 (up to 32 weeks of gestation): 27.6 - 46.9 µT-days |
集団 12 | cumulative exposure, period 3 (up to 32 weeks of gestation): ≥ 46.9 µT-days |
参照集団 13 | mean workday exposure: < 0.13 µT-days |
集団 14 | mean workday exposure: 0.13 - 0.19 µT-days |
集団 15 | mean workday exposure: 0.19 - 0.33 µT-days |
集団 16 | mean workday exposure: ≥ 0.33 µT-days |
タイプ | 値 |
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合計 | 19,894 |
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