[長期の電磁パルスばく露は酸化ストレスならびにAPPとBACE1の過剰発現を介してβ-アミロイド沈着および認知機能障害を誘導する] med./bio.

Long-term electromagnetic pulse exposure induces Abeta deposition and cognitive dysfunction through oxidative stress and overexpression of APP and BACE1

著者: Jiang DP, Li JH, Zhang J, Xu SL, Kuang F, Lang HY, Wang YF, An GZ, Li J, Guo GZ
掲載誌: Brain Res 2016; 1642: 10-19
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この研究は、健康なSD雄ラット（n=55）に8ヵ月間、電磁パルス（EMP：詳細は抄録に記載無し）のばく露を与え、ばく露終了後、モーリス水迷路（MWM）試験により認知および記憶への影響を調べた。また、海馬組織の酸化ストレスレベルを、スーパーオキシドジスムターゼ（SOD）活性、グルタチオン（GSH）含有量により測定した。その結果、長期EMPばく露が認知障害を誘導することが示された；海馬でのβ-アミロイドタンパク質が増加した；アミロイド前駆体タンパク質（APP）の異常切断の増加、その切断に関わる酵素βセクレターゼ（BACE1）の増加を含め、海馬ニューロンの酸化ストレスが確認された、と報告している。

ばく露