この実験研究は20人の被験者において携帯電話のパルス電磁界(217Hz)が誘発電位を引き起こすか否かを調べた。被験者の頭部を挟んで65cm離した金属プレート間に65V、パルス幅0.7msのパルスを3秒間隔で発生させ、パルス開始時を0として、いて76-471ms(E期:パルスの影響の分析期間)と2.076-2.471 ms (C期:対照期間)のEEGを非線形法によって評価した。ばく露/擬似ばく露の順は被験者毎にランダムに設定し、例えばある被験者は実験に馴れた後、まずばく露として80個のパルスを連続で与え、その後擬似ばく露として擬似パルスを80個連続で与えた。その結果、被験者の90%に予想された潜伏期間をもつ誘発電位が検知されたと報告している。
The detailed summary of this article is not available in your language or incomplete. Would you like to see a complete translation of the summary? Then please contact us →
To study whether a low frequency pulse of the type produced by mobile phones was capable of triggering evoked potentials in 20 volunteers.
Following an acclimation period, there were two experimental periods during which either a fieId or a sham exposure was presented. The order of exposure/sham exposure varied randomly from subject to subject.
周波数 | 217 Hz |
---|---|
タイプ |
|
ばく露時間 | 80 trials of 3 s - 0.7 ms on - 2.9993 s off |
Modulation type | single pulse |
---|---|
Pulse width | 0.7 ms |
ばく露の発生源/構造 |
|
---|---|
Sham exposure | A sham exposure was conducted. |
A pulse of the type produced by mobile phones was transduced by 90% of the subjects, as indicated by the occurrence of evoked potentials. The implication of the data is that mobile phones trigger evoked potentials at the frequency of 217 Hz during ordinary cell phone use.
The authors conclude that chronic production of the changes in brain activity might be pertinent to the reports of health hazards among mobile phone users.
このウェブサイトはクッキー(Cookies)を使って、最善のブラウジングエクスペリエンスを提供しています。あなたがこのウェブサイトを継続して使用することで、私たちがクッキーを使用することを許可することになります。