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キーワード: EMF, "Elektromagnetisches Feld", "electromagnetic field", 電磁界

• 2016, Paolucci T, Piccinini G, Iosa M, Piermattei C, de Angelis S, Grasso MR, Zangrando F, Saraceni VM
  [線維筋痛症における超低周波磁界の効能：パイロット研究] [med. app.]
  J Rehabil Res Dev 53 (6): 1023-1034
• 2016, Fan Y, Zhang C, Li T, Peng W, Yin J, Li X, Kong Y, Lan C, Wang R, Hu Z
  [ラットにおけるCa(2+)-ATPアーゼアイソフォーム1分泌経路の下方制御の阻害によるゴルジ体ストレスの減衰を通じた中大脳動脈閉塞／再灌流傷害からの短波防護の新たなアプローチ] [med./bio.]
  J Stroke Cerebrovasc Dis 25 (7): 1813-1822
• 2016, Alam T, Alam MS, Misran N, Mansor MF, Islam MT
  [紙ベースの負の屈折率のメタマテリアルシールドを用いた電磁的吸収の低減の分析] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Advances in Electrical, Electronic and Systems Engineering (ICAEES), Putrajaya. IEEE; ISBN 978-1-5090-2889-4
• 2016, Akramova MS, Korobeynikov SM, Akramov BK
  [詳細] [有害な生産要素の影響下での人体の変化のポリグラフによる記録の可能性] [med./bio.]
  2016 11th International Forum on Strategic Technology (IFOST), Novosibirsk. IEEE; ISBN 978-1-4673-8812-2
• 2016, Raquib MA, Hossain MS
  [3軸テスラメータを用いた職業環境での電磁界放射測定] [tech./dosim.]
  2016 2nd International Conference on Electrical, Computer & Telecommunication Engineering (ICECTE), Rajshahi. IEEE; ISBN 978-1-5090-5786-3
• 2016, Haik MN, Alburquerque-Sendín F, Moreira RF, Pires ED, Camargo PR
  [詳細] [明確に定義された肩峰下疼痛痛における理学療法の有効性：無作為化対照試験の系統的レビュー] [review]
  Br J Sports Med 50 (18): 1124-1134
• 2016, Mohd Yusof MS, Supriyanto E, Dewi DEO
  [雷電流対応の人体頭部モデル用アガロースゲルの電気化学的特性の調査] [tech./dosim.]
  2016 International Conference on Robotics, Automation and Sciences (ICORAS), Melaka, Malaysia. IEEE; ISBN 978-1-5090-6206-5
• 2016, Shaw A, Sharma M, Zibly Z, Ikeda D, Deogaonkar M
  [鼠径部および生殖器の疼痛に対する末梢神経刺激、末梢電磁界刺激およびハイブリッド刺激のサンドイッチ法] [med. app.]
  Br J Neurosurg 30 (6): 631-636
• 2016, Thaijiam C, Woradit K, Leela N, Kaewwibool P
  [詳細] [携帯電話の電磁放射は人の健康を害するか？] [review]
  2016 9th Biomedical Engineering International Conference (BMEiCON), Laung Prabang, Laos. IEEE; ISBN 978-1-5090-3940-1
• 2016, Polat LNÖ, Çömlekçi S
  [電磁界ばく露の筋組織におけるSAR分布と温度上昇のモデリング（トルコ語）] [foreign-language]
  [2016 Medical Technologies National Congress (TIPTEKNO), Antalya, Turkey]. IEEE; ISBN 978-1-5090-2387-5