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キーワード: "T wave", T-Welle, T-Zacke, T波

• 2022, Keshavarz M, Eslami J, Abedi-Firouzjah R, Mortazavi SA, Abbasi S, Mortazavi G
  [異なる物理的ストレス要因はどのように歯科用アマルガム充填物からの水銀放出や微小漏洩に影響するか？　系統的レビュー] [review]
  J Biomed Phys Eng 12 (3): 227-236
• 2022, Perez FP, Bandeira JP, Perez Chumbiauca CN, Lahiri DK, Morisaki J, Rizkalla M
  [加齢および加齢に伴う疾患における反復的電磁界刺激および生物系相互作用への多次元的洞察] [tech./dosim.]
  J Biomed Sci 29: 39
• 2022, Jalilian H, Guxens M, Heikkinen S, Pukkala E, Huss A, Eshagh Hossaini SK, Kjærheim K, Vermeulen R
  [悪性リンパ腫と超低周波磁界および電撃への職業ばく露：北欧四か国のコホート内症例対照研究] [epidem.]
  Occup Environ Med 79 (9): 631–636
• 2022, Fu C, Yue Y, Gu W
  [ウェアラブルアプリケーション用のEBG［電磁バンドギャップ］アレイを備えた透明なモノポールアンテナ] [tech./dosim.]
  2022 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Suzhou, China. IEEE: pp. 201-203; ISBN 978-1-6654-2341-0
• 2022, Cheng D, Zhang B, Xiong S, Xie Z, Xue Z
  [低圧直流系での残留電流検出プロトタイプおよびシミュレーション法] [tech./dosim.]
  IEEE Access 10: 51100-51109
• 2022, Kapetanović AL, Sacco G, Poljak D, Zhadobov M
  [ミリ波での現実的な組織モデルについての面積平均化吸収電力密度の評価] [tech./dosim.]
  2022 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Suzhou, China. IEEE: pp. 153-155; ISBN 978-1-6654-2341-0
• 2022, Karimi F, Kühn S, Xi J, Reboux S, Christ A, Fallahi A, Meyer R, Kuster N
  [吸収電力密度の測定のための方法および実装] [tech./dosim.]
  2022 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Suzhou, China. IEEE: pp. 129-131; ISBN 978-1-6654-2341-0
• 2022, Sasaki K, Li K, Nagaoka T
  [0.1-1 THzのテラヘルツ波へのヒトの皮膚ばく露：多層平面モデルを用いた統計的評価] [tech./dosim.]
  2022 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Suzhou, China. IEEE: pp. 25-27; ISBN 978-1-6654-2341-0
• 2022, Ito R, Jeon S, Wang J, Lee AK, Pack JK, Choi HD, Ahn YH, Imaida K
  [大規模動物研究用の反射箱内でのばく露レベルの定量化] [tech./dosim.]
  IEEE J Microw 2 (3): 522-532
• 2022, Buyakova NV, Kryukov AV, Seredkin DA
  [マルチトラックセクションの25 kVトラクションネットワークによって生成される電磁界のモデリング] [tech./dosim.]
  2022 International Conference on Industrial Engineering, Applications and Manufacturing (ICIEAM), Sochi, Russian Federation. IEEE: pp. 52-56; ISBN 978-1-6654-8370-4