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354件の論文が見つかりました。

キーワード: 遠方界, Fernfeld, "far field"

• 2021, Jahan I, Kabir A
  Microstrip Patch Antenna for Breast Cancer Detection [tech./dosim.]
  2021 5th International Conference on Electrical Information and Communication Technology (EICT), Khulna, Bangladesh. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-0907-0
• 2021, Tran P, Richardson ML, Zeng FG
  [統合失調症患者におけるTMSと神経生理学的生体認証の系統的レビュー人工内耳と経頭蓋電気刺激で得たヒト頭部の入出力関数] [tech./dosim.]
  Neuromodulation 24 (8): 1402-1411
• 2021, Rivera González MX, Félix González N, López I, Ochoa Zambrano JS, Miranda Martínez A, Maestú Unturbe C
  [複数の狭帯域（300 kHz）での78 MHzから6 GHzまでの電磁界の特徴付けと記録のためのコンパクトなばく露測定装置] [tech./dosim.]
  Sensors 21 (21): 7395
• 2021, De Borre E, Joseph W, Aminzadeh R, Müller P, Boone MN, Josipovic I, Hashemizadeh S, Kuster N, Kühn S, Thielens A
  [ネッタイシマカ（A. aegypti）の2-240 GHzの高周波ばく露] [tech./dosim.]
  PLoS Comput Biol 17 (10): e1009460
• 2021, De Miguel-Bilbao S, Hernandez JA, Suarez OJ, Marina P, Febles VM, Rabassa LE, Suarez S, Karpowicz J, Zradzinski P, Gryz K, Aguirre E, Ramos V
  [スマートヘルスケア環境でのUHF-RFID［超高周波無線タグ］システムによる近傍界ばく露条件] [tech./dosim.]
  2021 IEEE International Joint EMC/SI/PI and EMC Europe Symposium, Raleigh, NC, USA. IEEE: pp. 13-18; ISBN 978-1-6654-4889-5
• 2021, Lin JC
  [ワイヤレス電力伝送の安全性] [basics]
  IEEE Access 9: 125342-125347
• 2021, Röösli M, Dongus S, Jalilian H, Feychting M, Eyers J, Esu E, Oringanje CM, Meremikwu M, Bosch-Capblanch X
  [一般公衆および労働者の集団における耳鳴り、片頭痛および非特異的症状に対する高周波電磁界ばく露の影響：ヒト観察研究についての系統的レビューのためのプロトコル] [basics]
  Environ Int 157: 106852
• 2021, Wang X, Xia C, Lu L, Qi H, Zhang J
  [数値シミュレーションを通じた1.8 GHzでの2匹の自由ラットについての電磁的ばく露ドシメトリ研究] [tech./dosim.]
  Front Public Health 9: 721166
• 2021, Lagorio S, Blettner M, Baaken D, Feychting M, Karipidis K, Loney T, Orsini N, Röösli M, Paulo MS, Elwood M
  [一般公衆および労働者の集団におけるがんリスクに対する高周波電磁界ばく露の影響：ヒト観察研究の系統的レビューのためのプロトコル] [basics]
  Environ Int 157: 106828
• 2021
  [IEEE規格C95.3-2021：0 Hz-300 GHz電磁界人体ばく露の観点での電界、磁界、および電磁界の測定および計算のためのIEEE推奨の実践的方法、承認版草案] [guideline]
  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), IEEE Std C95.3-2021: 1-240, ISBN 978-1-5044-7510-5