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キーワード: 経皮電気神経刺激, "Transkutane elektrische Nervenstimulation", "Transkutane Nervenstimulation", TENS, "transcutaneous electric nerve stimulation", "transcutaneous nerve stimulation", 経皮神経刺激

• 2014, McRackan TR, Rivas A, Hedley-Williams A, Raj V, Dietrich MS, Clark NK, Labadie RF
  [電気けいれん療法後の人工内耳のインピーダンス試験] [dev./impl.]
  J ECT 30 (4): 303-308
• 2014, Yamada N, Kakuda W, Kondo T, Shimizu M, Sageshima M, Mitani S, Abo M
  [脳卒中後上肢麻痺に対する連続的シータ波バースト刺激と作業療法の併用療法：予備的研究] [med. app.]
  Acta Neurol Belg 114 (4): 279-284
• 2014, Hafizi L, Sazgarnia A, Mousavifar N, Karimi M, Ghorbani S, Kazemi MR, Emami Meibodi N, Hosseini G, Mostafavi Toroghi H
  [NMRIマウスの体外受精成功率に対する超低周波パルス電磁界の影響] [med./bio.]
  Cell J 15 (4): 310-315
• 2014, Dingemanse R, Randsdorp M, Koes BW, Huisstede BM
  [詳細] [内側および外側上顆炎治療のための電気生理学的モダリティの有効性に関する証拠：系統的レビュー] [review]
  Br J Sports Med 48 (12): 957-965
• 2014, Lee YB, Eun YS, Lee JH, Cheon MS, Cho BK, Park HJ
  [韓国人における多極無線周波療法およびパルス電磁界療法の効果：症例シリーズおよびサーベイ研究] [med. app.]
  J Dermatolog Treat 25 (4): 310-313
• 2013, Silbert BI, Pevcic DD, Patterson HI, Windnagel KA, Thickbroom GW
  Inverse correlation between resting motor threshold and corticomotor excitability after static magnetic stimulation of human motor cortex [med. app.]
  Brain Stimul 6 (5): 817-820
• 2013, Lauretti GR, Chubaci EF, Mattos AL
  Efficacy of the use of two simultaneously TENS devices for fibromyalgia pain [med. app.]
  Rheumatol Int 33 (8): 2117-2122
• 2013, Berghmans B, Hendriks E, Bernards A, de Bie R, Omar MI
  [詳細] [男性尿失禁に対する非植込み電極による電気的刺激] [review]
  Cochrane Database Syst Rev 6: 001202
• 2013, Martelletti P, Jensen RH, Antal A, Arcioni R, Brighina F, de Tommaso M, Franzini A, Fontaine D, Heiland M, Jurgens TP, Leone M, Magis D, Paemeleire K, Palmisani S, Paulus W, May A
  [詳細] [慢性頭痛の神経変調療法：欧州頭痛連合からの基本指針表明] [review]
  J Headache Pain 14: 86
• 2013, Linhares A, Martins Soares AJ, Brasil Terada MA
  [EMFへの人体ばく露の評価における無線基地局アンテナからのサイドローブ] [tech./dosim.]
  2013 SBMO/IEEE MTT-S International Microwave & Optoelectronics Conference (IMOC), Rio de Janeiro, Brazil. IEEE: p. 13878101; ISBN 978-1-4799-1397-8