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2967件の論文が見つかりました。

キーワード: "extremely low frequency", "extrem niedrige Frequenz", ELF, 超低周波

• 2017, Zhang H, Dai Y, Cheng Y, He Y, Manyakara Z, Duan Y, Sun G, Sun X
  [詳細] [マウスの海馬でのCa(2+)シグナル伝達および二重メッセンジャーシステムならびにハスの子嚢から抽出したプロシアニジンの反転機能に対する超低周波磁界の影響力] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 38 (6): 436-446
• 2017, Panagopoulos DJ, Balmori A
  [生物による空中放電のセンシングの生物物理学的機序について] [tech./dosim.]
  Sci Total Environ 599-600: 2026-2034
• 2017, Gallastegi M, Jiménez-Zabala A, Santa-Marina L, Aurrekoetxea JJ, Ayerdi M, Ibarluzea J, Kromhout H, González J, Huss A
  [INMAのギプスコア県コホートでの子どもの超低周波および中間周波の磁界および電界へのばく露] [tech./dosim.]
  Environ Res 157: 190-197
• 2017, Akbarnejad Z, Eskandary H, Dini L, Vergallo C, Nematollahi-Mahani SN, Farsinejad A, Abadi MFS, Ahmadi M
  [ヒト神経膠芽腫細胞に対するテモゾロミド［抗がん剤の一つ］の細胞毒性は超低周波電磁界（100 Hz、100 G）への付随的なばく露によって強められる] [med./bio.]
  Biomed Pharmacother 92: 254-264
• 2017, Zhang D, Zhang Y, Zhu B, Zhang H, Sun Y, Sun C
  [詳細] [レスベラトロール［抗酸化物質の一種］は発電所作業者の電磁界への長期的な職業ばく露の影響を逆転させ得る] [med./bio.]
  Oncotarget 8 (29): 47497-47506
• 2017, Kuzay D, Ozer C, Sirav B, Canseven AG, Seyhan N
  [糖尿病ラットおよび健康なラットの精巣組織に対する超低周波磁界および無線周波放射の酸化的影響] [med./bio.]
  Bratisl Lek Listy 118 (5): 278-282
• 2017, Naarala J, Kesari KK, McClure I, Chavarriaga C, Juutilainen J, Martino CF
  [詳細] [細胞増殖およびスーパーオキシドラジカル産出に対する静磁界とELF磁界の組合せの方向依存性の影響] [med./bio.]
  Biomed Res Int 2017: 5675086
• 2017, Dogan MS, Yavas MC, Yavuz Y, Erdogan S, Yener İ, Simsek İ, Akkus Z, Eratilla V, Tanik A, Akdag MZ
  [詳細] [ラットの歯の微量元素含量に対する電磁界と抗酸化物の影響] [med./bio.]
  Drug Des Devel Ther 11: 1393-1398
• 2017, Bisceglia B, Valbonesi S
  [詳細] [農業におけるELF電磁界：持続可能な発展のための新技術] [review]
  2017 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES), Suzhou, China. IEEE; ISBN 978-0-9960078-3-2
• 2017, Aerts S, Vermeeren G, Calderon C, Valič B, Van Den Bossche M, Verloock L, Maslanyj M, Addison D, Gajšek P, Martens L, Röösli M, Cardis E, Joseph W
  [家電製品の中間周波の電界および磁界へのばく露] [tech./dosim.]
  2017 International Applied Computational Electromagnetics Society Symposium (ACES), Suzhou, China. IEEE; ISBN 978-0-9960078-3-2