【目的】低電力密度電磁界の長期ばく露の影響に関与する潜在的メカニズムとして示唆されている酸化ストレスの上昇を検証すること。【方法】酵母培地を、0.5-16W/kgのSARで9.71GHzパルス電磁界に20分間ばく露させた。酸化性の変動をESRスピントラッピング法により調べ、それが細胞膜流動性に与える影響をスピンラベル法で【結果】水溶性スピントラップおよび脂溶性スピントラップを用いた実験は、低電力密度ばく露条件(SAR<4W/kg)および熱的条件(SAR>4W/kg)の両方において、スピン反応生成物の増加を示した。全ての条件で、ばく露後の細胞流動性減退は脂質過酸化と一致していた。全体的結果は、細胞内でのフリーラジカル生成の増加を示唆したが、酵母のバイタリティに変化は見られなかった。
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To study the effects of pulsed electromagnetic field exposure at 9.71 GHz on free radical production and membrane fluidity in yeast.
周波数 | 9.71 GHz |
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タイプ |
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ばく露時間 | continuous for 20 min |
Modulation type | pulsed |
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Pulse width | 9 µs |
Duty cycle | 1 % |
ばく露の発生源/構造 |
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ばく露装置の詳細 | samples in glass micropipette inserted in a 3 mm quartz tube which was placed in the cavity of the ESP system |
The data showed, in a yeast model, an increase of free radical formation under radiofrequency electromagnetic field exposure, not only under thermal condition, but also for low power density exposure. Reactive oxygen species formation was sufficient to induce lipid peroxidation and membrane fluidity modifications. However, no effect on the yeast viability was found.
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