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キーワード: Wells, ウェル

• 2015, Shibkova DZ, Shilkova TV, Ovchinnikova AV
  [実験動物の生殖機能および子孫の生殖機能状態に対する無線周波電磁界の早発性および遅発性の影響［ロシア語］] [foreign-language]
  Radiats Biol Radioecol 55 (5): 514-519
• 2015, Nikolaev AA, Loginov PV
  [困難な環境にばく露した男性における精子形成パラメータ［ロシア語］] [foreign-language]
  Urologiia (5): 60-64
• 2015, Kiyatkin VA, Konchugova TV, Yakovlev MY, Bobkov AD
  [慢性細菌性前立腺炎を呈する患者の治療への複合共振波療法の適用［ロシア語］] [foreign-language]
  Vopr Kurortol Fizioter Lech Fiz Kult 92 (5): 40-44
• 2015, Plazier M, Ost J, Stassijns G, de Ridder D, Vanneste S
  [線維筋痛症治療のためのC2神経領域刺激：前向き、二重ブラインド、無作為化クロスオーバー試験] [med. app.]
  Brain Stimul 8 (4): 751-757
• 2015, Ruan Q, Zhao C, Ye Z, Ruan J, Xie Q, Xie W
  [電撃傷後の単球と内皮細胞との接着に対する単球由来VEGFの影響および考えられるメカニズム] [med./bio.]
  Burns 41 (4): 825-832
• 2015, Echternacht D, Stagge H, Priebe J, Wiernes P, Jagielski K, Petri AK, Drießen S, Trevisan B, Digmayer C, Oberst C, Keysselitz B, Kremer M, Sieber S, Krapp S, Jakobs EV, Frenz M, Lohrberg F, Wachten K, Moser A
  [DC配電グリッドのモデル化、計画、設計および評価] [info]
  International ETG Congress 2015; Die Energiewende - Blueprints for the new energy age, Bonn, Germany. VDE: pp. 1-7; ISBN 978-3-8007-4121-2
• 2015, Bjelica J, Djuric N, Kljajic D, Milutinov M, Fanti A
  [低周波EMFの連続モニタリングにおけるバウンダリ（線引きのための）ばく露評価] [tech./dosim.]
  2015 23rd Telecommunications Forum Telfor (TELFOR), Belgrade, Serbia. IEEE: pp. 539-542; ISBN 978-1-5090-0055-5
• 2015, Nicolardi G, Lofrumento DD, De Nuccio F, La Pesa V, Fontani V, Rinaldi S
  [非侵襲的物理アプローチによるパーキンソン病マウスモデルでの炎症促進性反応の調節] [med./bio.]
  2015 IEEE 15th Mediterranean Microwave Symposium (MMS), Lecce, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-4673-7602-0
• 2015, Kwate RK, Taybi C, Elmagroud B, Beauvois V, Geuzaine C, Picard D, Ziyyat A
  [人体近傍のために生じるEMF測定誤差の補正法の校正について] [tech./dosim.]
  2015 IEEE 15th Mediterranean Microwave Symposium (MMS), Lecce, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-4673-7602-0
• 2015, Renke A, Chavan M
  [携帯電話基地局アンテナからの電磁界への居住環境ばく露に関する調査] [tech./dosim.]
  2015 International Conference on Computing, Communication and Security (ICCCS), Pamplemousses. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-4673-9354-6