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キーワード:
t-Test, "Student's t-test", スチューデントt-検定, t-検定
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Lerchl A, Klose M, Drees (née Grote) K
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2020 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility & Signal/Power Integrity (EMCSI), Reno, NV, USA. IEEE: 270-275; ISBN 978-1-7281-7431-0