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キーワード: t-検定, t-Test, "Student's t-test", スチューデントt-検定

• 2006, Suanjak-Treidl E, Weber S, Welles SU, Scherer-Pongratz W, Endler PC, Frass M
  [詳細] [ホメオパシー薬の携帯電話ばく露：動物モデルでの調査] [med./bio.]
  ÖAZ 20: 973-975
• 2006, Calabrese M, d'Ambrosio G, Massa R, Petraglia G
  [1.95 GHz周波数の高効率インビトロ導波管ばく露装置] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Microw Theory Tech 54 (5): 2256-2264
• 2006, Perumal R, Wexler AS, Binder-Macleod SA
  [電気刺激に反応する下腿の動きを予測する数学的モデル] [tech./dosim.]
  J Biomech 39 (15): 2826-2836
• 2006, Vian A, Roux D, Girard S, Bonnet P, Paladian F, Davies E, Ledoigt G
  [詳細] [マイクロ波照射は植物の遺伝子発現に影響する] [med./bio.]
  Plant Signal Behav 1 (2): 67-70
• 2006, El-Sharkawy AM, Sotiriadis PP, Bottomley PA, Atalar E
  [MRIスキャナーにおけるRFラジオメトリを用いた絶対温度モニタリング] [tech./dosim.]
  IEEE Trans Circuits Syst I Regul Pap 53 (11): 2396-2404
• 2006, Sannino A, Calabrese ML, d'Ambrosio G, Massa R, Petraglia G, Mita P, Sarti M, Scarfi MR
  [詳細] [1950 MHz変調信号ばく露後のヒト末梢血リンパ球における細胞毒性と遺伝子毒性の影響評価] [med./bio.]
  IEEE Trans Plasma Sci 34 (4): 1441-1448
• 2006, Lass J, Rodina A, Riipulk J, Hinrikus H, Bachmann T
  [詳細] [「注意の瞬き」検査中のヒトの意識的認知に対する変調電磁界の影響はあるか？] [med./bio.]
  2006 International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, New York, NY, USA. IEEE: pp. 2924-2927; ISBN 978-1-4244-0032-4
• 2006, Bachmann M, Lass J, Kalda J, Sakki M, Tomson R, Tuulik V, Hinrikus H
  [詳細] [EEG解析での差の積分はマイクロ波によるヒトEEG変化を明らかにする] [med./bio.]
  2006 International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, New York, NY, USA. IEEE: pp. 1597-1600; ISBN 978-1-4244-0032-4
• 2006, Cvetkovic D, Jovanov E, Cosic I
  [詳細] [超低周波電磁界によるヒトEEG 活動の変化] [med./bio.]
  2006 International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, New York, NY, USA. IEEE: pp. 3206-3209; ISBN 978-1-4244-0032-4
• 2006, Cox FC, Sharma VK, Klibanov AM, Wu BI, Kong JA, Engels DW
  [無線周波放射がRFID技術と関連する調剤に与える非熱作用の研究方法] [tech./dosim.]
  2006 International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, New York, NY, USA. IEEE: pp. 4340-4343; ISBN 978-1-4244-0032-4