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キーワード: expose, exponieren, ばく露する

• 2024, Esmaeili H, Yang C, Schuster C
  [パラメータ優先度を考慮した人工ニューラルネットワークを用いたばく露入射角依存性を考慮した人体頭部モデルのSAR予測] [tech./dosim.]
  2024 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Montreal, QC, Canada. IEEE, Kanada: pp. 152-154; ISBN 9798350351064
• 2024, Ibrahim NNAE, Estfanous RS, Abo-Alala AM, Elkattan AK, Amer RM
  [成体の雄のアルビノラットにおけるWi-Fiルーターの電磁放射が甲状腺に及ぼす影響、ならびにビタミンCと亜鉛の併用による保護効果] [med./bio.]
  J Microsc Ultrastruct 12 (2): 51-61
• 2024, Kranold L, Jingtian X, Goren T, Kuster N
  [インプラントを持つ人々：電磁界ばく露規制で見過ごされている集団か？] [dev./impl.]
  2024 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Montreal, QC, Canada. IEEE, Kanada: pp. 119-121; ISBN 9798350351064
• 2024, Pei Y, Gao H, Zhang M, Zhou F, Zhu Y, Wang X, Sun J
  [マウスの自然免疫に対する携帯電話から発せられる放射の影響] [temp.]
  Radiat Eff Defects Solids [in press]
• 2024, Bianconi S, Leppik L, Oppermann E, Marzi I, Henrich D
  [直流電気刺激はTHP-1由来マクロファージの極性をプロ再生M2表現型にシフトする] [med./bio.]
  Int J Mol Sci 25 (13): 7272
• 2024, Colella M, Biscarini M, Pellegrino G, de Meis M, Cavagnaro M, Apollonio F, Liberti M
  [近傍界条件で高周波車両アンテナにばく露された軍人に対する計算ドシメトリ] [tech./dosim.]
  2024 4th URSI Atlantic Radio Science Meeting (AT-RASC), Meloneras, Spain. IEEE, Spanien: pp. 1-4; ISBN 9798350360257
• 2024, Moncayo-Donoso MA, Garzon-Alvarado DA, Visser RR, Ratia JB, Vaca-Gonzalez JJ, Duque MRF
  [間葉系幹細胞の骨芽細胞分化に対する生物物理的刺激の影響] [temp.]
  Biomed Eng Appl Basis Commun [in press]
• 2024, Ashnaei SP, Sadeghi R, Hosseinian L, Shafaeizadeh A, Zeinalipour M, Keshvari H, Imanzadeh M, Bahmanabadi M
  [菜種の成長および黒根病の病原菌Phoma lingamに対する磁界の効果の評価] [med./bio.]
  Biotechnologia 105 (2): 149-158
• 2024, Hassanpour H
  [ホオズキ細胞懸濁培養の確立：静磁界下でのステロイド化合物、主要酵素、およびフィザリンに関連する遺伝子の時間依存的挙動] [med./bio.]
  Protoplasma 261 (6): 1267-1280
• 2024, Censi F, Vivarelli C, Mattei E, Calcagnini G, Bogi A, Comelli M, Zoppetti N, Burriesci G, D’Agostino S, Falsaperla R
  [美容・理学療法センターの作業環境における心臓能動型植込み型医療機器の電磁両立性の実験的評価] [dev./impl.]
  2024 4th URSI Atlantic Radio Science Meeting (AT-RASC), Meloneras, Spain. IEEE, Spanien: pp. 1-4; ISBN 9798350360257