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457件の論文が見つかりました。

キーワード: Cerebellum, Zerebellum, Kleinhirn, 小脳

• 2022, Hua JPY, Abram SV, Ford JM
  [統合失調症における小脳刺激：エビデンスの系統的レビューおよび手法の概要] [review]
  Front Psychiatry 13: 1069488
• 2022, Tiefenbach J, Chan HH, Machado AG, Baker KB
  [外傷性脳損傷後の機能回復のための神経刺激：侵襲的外科的アプローチの現在の証拠と将来の方向性] [review]
  Neurosurgery 91 (6): 823-830
• 2022, Bas O, Sengul I, Bas OFM, Hanci H, Degermenci M, Sengul D, Altuntas E, Soztanaci US, Sonmez OF, Soares Junior JM
  [雄ラットの仔の小脳のプルキンエ細胞に対する出生前の慢性的な900 MHz電磁界の印象：言及に値するか？] [med./bio.]
  Rev Assoc Med Bras 68 (10): 1383-1388
• 2022, Gokyar S, Voss HU, Taracila V, Robb FJL, Bernico M, Kelley D, Ballon DJ, Winkler SA
  [超高磁界磁気共鳴画像撮影のための二次元ボア搭載ボリュームボディコイルコンセプトへの道] [tech./dosim.]
  NMR Biomed 35 (12): e4802
• 2022, Matković A, Kordić A, Jakovčević A, Šarolić A
  [マイクロ波周波数範囲におけるエクスビボでのヒト、ウシおよびブタ組織の複素誘電率] [med./bio.]
  Diagnostics 12 (11): 2580
• 2022, Komatsu T, Hada T, Sasaki N, Kida H, Takahashi J, Maku T, Nakada R, Shiraishi T, Akiyama S, Kitagawa T, Sato T, Takatsu H, Sakuta K, Sakai K, Umehara T, Omoto S, Murakami H, Mitsumura H, Abo M, Iguchi Y
  [急性脳出血患者における高頻度反復的経頭蓋磁気刺激の効果および安全性：パイロット研究] [med. app.]
  J Neurol Sci 443: 120473
• 2022, Kopani M, Panik J, Filova B, Bujdos M, Misek J, Kohan M, Jakus J, Povinec P
  PIXE analysis of iron in rabbit cerebellum after exposure to radiofrequency electromagnetic fields [med./bio.]
  Bratisl Lek Listy 123 (12): 864-871
• 2022, Uenishi S, Tamaki A, Yamada S, Yasuda K, Ikeda N, Mizutani-Tiebel Y, Keeser D, Padberg F, Tsuji T, Kimoto S, Takahashi S
  [統合失調症および気分障害の患者における前頭前野経頭蓋直流刺激のための電界の計算モデリング] [tech./dosim.]
  Psychiatry Res Neuroimaging 326: 111547
• 2022, Nitta RT, Luo EJ, Lim M, Li G
  [腫瘍治療電界療法はDNA損傷を生じ、骨芽腫細胞株の細胞運動性を低下させ得るか？] [med./bio.]
  J Neurosurg Pediatr 30 (6): 555-566
• 2022, Bonato M, Gallucci S, Chiaramello E, Fiocchi S, Ferrucci R, Priori A, Dini M, Bortolomasi M, Parazzini M
  [治療抵抗性うつ病に対する小脳および前頭経頭蓋直流電流刺激の併用の計算評価] [tech./dosim.]
  2022 44th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine & Biology Society (EMBC), Glasgow, Scotland, United Kingdom. IEEE: pp. 4362-4365; ISBN 978-1-7281-2783-5