文献検索結果

9781件の論文が見つかりました。

キーワード: Puls, pulse, パルス

• 2008, Suhhova A, Bachmann M, Aadamsoo K, Vohma U, Lass J, Hinrikus H
  [詳細] [脳電図コヒーレンスへのマイクロ波放射の影響] [med./bio.]
  Katashev A, Dekhtyar Y, Spigulis J (eds.): 14th Nordic-Baltic Conference on Biomedical Engineering and Medical Physics. IFMBE Proceedings, 20巻; Springer, Berlin, Heidelberg; pp. 331-334; ISBN 978-3-540-69366-6
• 2008, Yue A, Yang G, Wu J, Lai Y, Huang H, Chen H
  [内皮細胞の形態および機能に対するパルス化電気刺激の影響] [foreign-language]
  Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi 25 (3): 694-698
• 2008, Li C, Hu L, Wang P, Dong X, Zhu Y, Yao C, Mi Y
  [急峻パルスは卵巣腫瘍の組織因子発現を変化させる] [foreign-language]
  Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi 25 (2): 402-406
• 2008, Lu Z, Shi P, Zhu M, Sun W, Ding H, Hou J
  [瞬間的なマイクロ波および電磁パルスによる微生物滅菌の研究] [foreign-language]
  Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi 25 (4): 811-813
• 2008, Liu H, Tang L, Sun C, Mi Y, Yao C, Li C, Wang Y
  [急峻パルスばく露を受けた細胞でのアポトーシスとメカニズムに関する研究] [foreign-language]
  Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi 25 (3): 637-641
• 2008, Yao C, Mo D, Sun C, Chen X, Xiong Z
  [細胞内の電子的操作に適用されるナノ秒パルス電界に関する研究の進歩] [foreign-language]
  Sheng Wu Yi Xue Gong Cheng Xue Za Zhi 25 (5): 1206-1209
• 2008, Dando R, Chen W
  [電気損傷細胞を救うモデルとしての同期変調方式による電気穿孔からの細胞の回復] [med./bio.]
  Burns 34 (8): 1128-1136
• 2008, Panescu D, Kroll MW, Stratbucker RA
  [神経筋無力化装置であるTASER使用中における心室細動の理論上の発生可能性] [tech./dosim.]
  2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 5671-5674; ISBN 978-1-4244-1814-5
• 2008, Yao C, Mi Y, Hu X, Li C, Sun C, Tang J, Wu X
  [ナノ秒パルス電界によりSKOV3がん細胞に誘導されたアポトーシスに関する実験とメカニズム研究] [med./bio.]
  2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 1044-1047; ISBN 978-1-4244-1814-5
• 2008, Yao C, Hu X, Li C, Mi Y, Sun C
  [等価回路モデルに基づく細胞膜電位の時間-周波数特性の研究] [tech./dosim.]
  2008 30th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society, Vancouver, BC, Canada. IEEE: pp. 1032-1035; ISBN 978-1-4244-1814-5