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キーワード: Mobiltelefon, "Smart Phones", "Smart Phone", Smartphone, Handy, "cellular telephone", "cellular phone", "mobile phone", "cell phone", セルラー電話, 携帯電話

• 2020, 著者のリストなし
  [懸念の表明：携帯電話周波数での電磁界による短期ERK活性化のメカニズム] [comment]
  Biochem J 477 (19): 3897
• 2020, Bechta K, Grangeat C, Du J
  [指向性アンテナを備えた5G基地局の無線周波ばく露評価に対する有効アンテナパターンの影響] [tech./dosim.]
  2020 XXXIIIrd General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-5690-3
• 2020, Mazloum T, Danjou AMN, Schüz J, Bories S, Huss A, Conil E, Deltour I, Wiart J
  [XMobiSensePlus：RF電磁界へのヒトのばく露の評価用のアップデートされたアプリケーション] [tech./dosim.]
  2020 XXXIIIrd General Assembly and Scientific Symposium of the International Union of Radio Science, Rome, Italy. IEEE: pp. 1-2; ISBN 978-1-7281-5690-3
• 2020, El-Hajj AM, Naous T
  [段階的な5Gネットワーク展開戦略における放射分析] [tech./dosim.]
  2020 IEEE 3rd 5G World Forum (5GWF), Bangalore, India. IEEE: pp. 448-453; ISBN 978-1-7281-7300-9
• 2020, Samaniego J, Chuchon M, Adriano R, Inca S
  [移動通信用の非電離放射線の動的測定手法] [tech./dosim.]
  2020 IEEE XXVII International Conference on Electronics, Electrical Engineering and Computing (INTERCON), Lima, Peru. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-9378-6
• 2020, Shokri M, Shamsaei ME, Malekshah AK, Amiri FT
  [実験的マウスモデルにおける携帯電話の無線周波電磁界による精巣損傷に対するメラトニンの保護効果] [med./bio.]
  Andrologia 52 (11): e13834
• 2020, Lerchl A, Klose M, Drees (née Grote) K
  [エチルニトロソ尿素で処理およびUMTS無線周波電磁界にばく露した胎児マウスの脳、肝臓、および肺でのDNA損傷の増加は観察されず] [med./bio.]
  Bioelectromagnetics 41 (8): 611-616
• 2020, Seo MS, Choi JW, Kim KH, Choi HD
  [詳細] [韓国における携帯電話のリスク認知と電磁界についての客観的知識との関連] [risk]
  Int J Environ Res Public Health 17 (19): E7207
• 2020, Bektas H, Dasdag S, Bektas MS
  [ヒトの胎盤および臍帯血に対する2.4GHz Wi-Fiおよび携帯電話のばく露の影響の比較] [epidem.]
  Biotechnol Biotechnol Equip 34 (1): 154-162
• 2020, Dogra AK, Saini I, Sood N
  [心拍変動に対するワイヤレスセルラーネットワークのインパクト] [med./bio.]
  2020 International Conference on Computational Intelligence for Smart Power System and Sustainable Energy (CISPSSE), Keonjhar, Odisha, India. IEEE: pp. 1-4; ISBN 978-1-7281-7275-0