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キーワード: Mittelwert, "arithmetischer Mittelwert", Mittel, "arithmetic mean", "mean value", mean, 算術平均, 平均値, 平均

• 2022, Lorentzen R, Nguyen TD, McGirr A, Hieronymus F, Østergaard SD
  [統合失調症の陰性症状に対する経頭蓋磁気刺激（TMS）の有効性：系統的レビューおよびメタ分析] [review]
  Schizophrenia 8: 35
• 2022, Börner C, Staisch J, Lang M, Hauser A, Hannibal I, Huß K, Klose B, Lechner MF, Sollmann N, Heinen F, Landgraf MN, Bonfert MV
  [小児頭痛障害に対する反復的神経筋磁気刺激：筋肉への影響および反応レベルへの影響要因] [med. app.]
  Brain Sci 12 (7): 932
• 2022, Atanasov NT, Atanasova GL, Angelova B, Paunov M, Gurmanova M, Kouzmanova M
  [センサーネットワークおよびIoTアプリケーション用のウェアラブルアンテナ：SARおよび生物学的影響の評価] [tech./dosim.]
  Sensors 22 (14): 5139
• 2022, Wu MK, Satogami K, Liang CS, Stubbs B, Carvalho AF, Brunoni AR, Su KP, Tu YK, Wu YC, Chen TY, Li DJ, Lin PY, Hsu CW, Chen YW, Suen MW, Zeng BY, Takahashi S, Tseng PT, Li CT
  [メタンフェタミン使用障害患者における各種の非侵襲的脳刺激と薬理学的介入の多重比較：無作為化対照試験のネットワークメタ分析] [review]
  Psychiatry Clin Neurosci 76 (12): 633-643
• 2022, Negosanti F, Cannarozzo G, Zingoni T, Leone A, Fusco I
  [身体の整形と引き締めを同時に行うことは可能か？　Schwarzy：ボディスカルプティングの新技術] [med. app.]
  Bioengineering 9 (7): 284
• 2022, Díaz-Del Cerro E, Félix J, Tresguerres J, de la Fuente M
  [電磁界から防護するベッドでの睡眠後の男女における幾つかのストレス反応および睡眠の質のホルモンの改善] [med./bio.]
  Environ Health 21: 72
• 2022, Yang Y, Zhang J, Rao X, Dang W, Alfadhl Y, Chen X
  [アルツハイマー病治療のための細胞溶液のマイクロ波ばく露装置] [tech./dosim.]
  2022 IEEE MTT-S International Microwave Biomedical Conference (IMBioC), Suzhou, China. IEEE: pp. 135-137; ISBN 978-1-6654-2341-0
• 2022, Celaya-Echarri M, Azpilicueta L, Rodríguez-Corbo FA, Lopez-Iturri P, Shubair RM, Ramos V, Falcone F
  [航空機の客室環境での個人の高周波電磁界評価の5G空間モデリング] [tech./dosim.]
  IEEE Access 10: 78860-78874
• 2022, Fernández M, Peña I, Gil U, Jurado U, Guerra D
  [モバイル通信による電磁ばく露の時間変動の実証分析] [tech./dosim.]
  2022 IEEE International Symposium on Broadband Multimedia Systems and Broadcasting (BMSB), Bilbao, Spain. IEEE: pp. 1-6; ISBN 978-1-6654-6902-9
• 2022, Zeltser Y, Zeltser I, Peretz MM
  [静電容量ベースのワイヤレス電力伝送システムのコンピュータ支援電磁界放射評価ワークフロー] [tech./dosim.]
  2022 IEEE 23rd Workshop on Control and Modeling for Power Electronics (COMPEL), Tel Aviv, Israel. IEEE: pp. 1-7; ISBN 978-1-6654-1082-3