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キーワード: Mensch, humans

• 2009, Sharifian A, Gharavi M, Pasalar P, Aminian O
  [詳細] [スポット溶接工の血漿及び赤血球細胞中の抗酸化活性に対する超低周波磁界の影響] [med./bio.]
  Int Arch Occup Environ Health 82 (2): 259-266
• 2009, Vrijheid M, Armstrong BK, Bedard D, Brown J, Deltour I, Iavarone I, Krewski D, Lagorio S, Moore S, Richardson L, Giles GG, McBride M, Parent ME, Siemiatycki J, Cardis E
  [携帯電話からのばく露評価における想起バイアス] [tech./dosim.]
  J Expo Sci Environ Epidemiol 19 (4): 369-381
• 2009, Rudiger HW
  [C. Schwarz他 2008出版の「無線周波電磁界が生体外で、リンパ球でなく人の線維芽細胞に遺伝子毒性を誘発する」としたA. Lerchlの論評への回答] [comment]
  Int Arch Occup Environ Health 82 (2): 279-283
• 2009, Lerchl A
  [[無線周波数電磁界はヒト線維芽細胞に遺伝毒性影響をインビトロで誘発するが、リンパ球には誘発しない」に対するコメント] [comment]
  Int Arch Occup Environ Health 82 (2): 275-278
• 2009, Collins CM
  [MRIにおけるエンジニアリングおよび安全性確保を目的としたヒト被験者を考慮した界の数的計算] [tech./dosim.]
  NMR Biomed 22 (9): 919-926
• 2009, Crouzier D, Perrin A, Torres G, Dabouis V, Debouzy JC
  [詳細] [9.17GHｚパルス電磁界は酵母のフリーラジカルを増加させる] [med./bio.]
  Pathol Biol 57 (3): 245-251
• 2009, Sung KS, Seo JG, Shim JS, Lee YS
  [類骨骨腫治療のためのコンピュータ断層撮影法に誘導される経皮無線周波数熱アブレーション - 2～5年の追跡調査] [med. app.]
  Int Orthop 33 (1): 215-218
• 2009, German Commission on Radiological Protection (SSK)
  [詳細] [同時に稼動する排出源に関する排出基準導出のための原則] [guideline]
  Heller H: Empfehlungen und Stellungnahmen der Strahlenschutzkommission 2007. Veröffentlichungen der Strahlenschutzkommission, 64巻; Federal Ministry for the Environment, Nature Conservation and Nuclear Safety (BMU) (ed.): Hoffmann, Berlin: pp. 1-10; ISBN 978-3-87344-154-5
• 2008, Aniolczyk H, Politanski P, Mamrot P
  Selected Aspects of Uncontrolled Exposure to EMF in the Living Environment [tech./dosim.]
  19th International Wroclaw Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility, Wroclaw, Poland. IEEE: pp. 1-6; ISBN 9798331500122
• 2008, Sckorbatov Y, Pasiuga V, Bykov V, Grabina V, Ivanchenko D, Kolchigin N
  On Biological Effects of Differently Polarized Microwave Radiation [med./bio.]
  19th International Wroclaw Symposium and Exhibition on Electromagnetic Compatibility, Wroclaw, Poland. IEEE: pp. 1-5; ISBN 9798331500122